Сканирующий электронный микроскоп S-3700N


Сканирующий электронный микроскоп S-3700N

Сканирующий электронный микроскоп для изучения крупных и тяжелых образцов. Крупные образцы до 300 мм в диаметре.Область, доступная для наблюдения, до 203 мм в диаметре.Исследования и электронный анализ образцов до 110 мм высотой.Возможность использования различных аналитических приложений.