Сканирующий электронный микроскоп SU9000


Сканирующий электронный микроскоп SU9000

Микроскоп SU9000 с холодным вольфрамовым катодом разрабатывался для достижения наивысшего разрешения при работе с нанообъектами, и выполнен в “in-lens” дизайне. Электронная оптика SU9000 позволяет получать изображения морфологии поверхности образцов различных материалов, с детализацией вплоть до атомного или молекулярного уровня, что далеко превосходит по возможностям любой сканирующий микроскоп. Этой модели принадлежит рекордное значение разрешения во вторичных электронах и в режиме работы на просвет. Конструкция интегрированного детектора отраженных и вторичных электронов позволяет одновременно выводить изображение, используя сигналы вторичных и отраженных электронов. STEM-детектор (BF/DF DUO-STEM Detector, патент Hitachi) с изменяемым углом сбора электронов дает дополнительные возможности исследователю в формировании и оптимизации изображения.