Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп с коррекцией сферической аберрации HD-2700


Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп с коррекцией сферической аберрации HD-2700

Данный сканирующий просвечивающий микроскоп, оборудованный корректором сферической аберрации, который был разработан совместно с компанией «CEOS GmbH» (Германия, исполнительный директор: доктор Макс Хайдер), значительно превосходит возможности обычных сканирующих просвечивающих микроскопов и может быть использован для исследований в области нанотехнологий. Благодаря коррекции сферической аберрации, которая ограничивала производительность электронных микроскопов, было достигнуто разрешение в 1,5 раза выше и ток в 10 раз выше, чем в стандартных моделях микроскопов.