Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп Olympus LEXT отраженного света


Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп Olympus LEXT отраженного света

Olympus LEXT – конфокальный лазерный сканирующий микроскоп отраженного света. Обладает  уникальным сочетанием высокой разрешающей способности (до 0,12 мкм), непревзойденной глубины резкости и огромного диапазона увеличения (120х-14400х).

Одновременная обработка лазерного конфокального  и обычного RGB изображения.  Изображение в ДИК позволяет легко задавать диапазоны 3D сканирования поверхности.

Непревзойденное разрешение с использованием твердотельного  408 нМ лазера:  0,12 мкм по длине/ширине и  0,01 мкм по высоте  сопоставимо с разрешением SEM электронных микроскопов.

Высокоточные измерения в режиме 2D и 3D в диапазоне  от 1 мкм до 1.5 мм по каждой  оси,  например толщины прозрачных тонких пленок, глубины, площади, периметра, углов, радиусов и др. морфологических характеристик объектов. Воспроизводимость измерений 0,02 мкм по горизонтали и 0,052 мкм по вертикали.

Бесконтактный анализ шероховатости как гладких, так и грубых поверхностей с использованием интуитивно понятного программного обеспечения. Статистическая обработка результатов. Автоматизация анализа с помощью моторизированных компонентов.